ニュース&イベント (2018)

当社メモリ・テスト・システムによる128 Mb 密度STT-MRAM の高速動作実証実験に成功

測定スループット 従来機種比2倍、フォトマスク用MVM-SEM「E3650」を発表

高速NAND向けシステムレベル・テスト・システム「T5851 STM16G」を発表

米国Astronics 社のシステムレベルテスト事業譲受についてのお知らせ

計測システム「EVA100」の高電圧半導体向け新モジュールを発表

メモリ・テスト・システムによる、磁気ランダム・アクセス・メモリ（STT-MRAM）のスイッチング電流測定技術を確立

Cloud Testing Service社、パターン変換ソフトウエア「TesterBridge」を発表

「V93000」プラットフォームがプロセス・モニタ/開発工程に拡張

2019年3月期　第2四半期決算短信 〔IFRS〕（連結）

通期連結業績予想の修正に関するお知らせ

剰余金の配当（中間配当）および期末配当予想に関するお知らせ

2019年満期ユーロ円建転換社債型新株予約権付社債の転換価額の調整に関するお知らせ

メモリ・バーンイン・テスタ「B6700」シリーズに新機種登場

皮膚内の微小血管を非侵襲で可視化 光超音波と超音波を同時に計測が可能に

NANDフラッシュ、DRAM向け最新メモリ・バーンイン・テスタ 「B6700D」を発表

テスト・システム「V93000 Smart Scale」累計3,000台目をAMD社に設置

「FTSE4Good Index Series」と「FTSE Blossom Japan Index」の構成銘柄に継続選定

（訂正・数値データ訂正）2019年3月期　第1四半期決算短信〔IFRS〕（連結）の一部訂正について

ストック・オプション（新株予約権）の払込価額等決定に関するお知らせ (PDF 152KB)

業界初、PCI Express Gen 4対応のSSDテスト・システムを発表

2019年3月期　第1四半期決算短信 〔IFRS〕（連結）2018年8月13日訂正 (PDF 457KB)

ストック・オプション（新株予約権）の発行に関するお知らせ (PDF 210KB)

「SNAMサステナビリティ・インデックス」構成銘柄に2年連続で選定

第76回 定時株主総会決議ご通知 （PDF 189KB）

第76回 定時株主総会開催のお知らせ（招集ご通知）を掲載

剰余金の期末配当に関するお知らせ（PDF 110KB）

2019年満期ユーロ円建転換社債型新株予約権付社債の転換価額の調整に関するお知らせ（PDF 76KB）

当社メモリ・テスト・システムを用いたSTT-MRAMの歩留まり率向上と高性能化の実証実験に成功

VLSIresearch社の顧客満足度調査にて 「10 BEST」を30年連続受賞

熊本オフィスを開設

パワーマネージメントICの試験に最適。「V93000」テスト・プラットフォームに新モジュールを発表

「中長期経営方針」ページを新設

2018年3月期　決算短信 〔IFRS〕（連結）（PDF 568KB）

期末配当予想の修正に関するお知らせ（PDF 130KB）

業績連動型株式報酬制度の導入に関するお知らせ（PDF 237KB）

当社グループの幹部社員に対する株式交付型インセンティブ・プランの導入に関するお知らせ（PDF 257KB）

中長期経営方針策定に関するお知らせ（PDF 220KB）

次世代超高速DRAM用テスト・システム「T5503HS2」を発表

紫光集団傘下のUnigroup Spreadtrum & RDA社が最新の「V93000 Wave Scale」を導入

清華大学にメモリ・テスタ「T5830ES」と「T5833ES」を納入

「第21回環境コミュニケーション大賞」 環境報告書部門「優良賞」を受賞

iTest社の「サプライヤ・エクセレンス・アワード」を受賞

平成30年3月期 第3四半期決算短信 〔IFRS〕（連結）

トムソン・ロイター社の「世界のテクノロジー・リーダー上位100社」に選出