清華大学にメモリ・テスタ「T5830ES」と「T5833ES」を納入

中国でトップクラスの研究機関がメモリ半導体技術開発の教育用として導入

株式会社アドバンテスト(本社：東京都千代田区　社長：吉田 芳明)は、中国でトップクラスの研究機関である清華大学に、エンジニアリング用テスト・システム「T5830ES」と「T5833ES」を1台ずつ納入しました。これらの装置はマイクロエレクトロニクス&ナノエレクトロニクス学部の生徒に対して、用途が拡大しているSPI(Serial Peripheral Interface) NORフラッシュ・メモリのテスト手法を教えるのに使用されます。

「中国の半導体エコシステムに影響力のある清華大学と関係を継続的に持つことは、中国の半導体デザイン会社に当社試験装置の優位性を示す良い機会です。我々の先進的なメモリ・テスト・ソリューションは、IoTやスマートカードといった成長著しい市場向けでも中国全土の顧客にお使いいただいています。」とAdvantest (China) Co., Ltd.の徐勇CEOは述べています。

「T5830ES」メモリ・テスト・システムは、フラッシュ・メモリをコスト効率よく試験するためのエンジニアリング用システムです。データ読み書き速度は800Mbpsまで対応しており、高電圧対応のプログラム可能な電源により、ウエハ試験からパッケージ試験まで、少ピンから多ピンまで、様々なフラッシュ・メモリを試験することができます。また他の「T5800」シリーズと同様に、革新的なTester-per-Site^TMアーキテクチャとFutureSuite^TMソフトウエアを採用しています。

「T5833ES」メモリ・テスト・システムは、LPDDR3 DRAM、高速NANDフラッシュ・メモリ、次世代不揮発メモリなど、あらゆるメモリICのウエハ試験とパッケージ試験が可能なエンジニアリング用システムです。2.4Gbpsのデータ読み書き速度に対応すると共に、業界最高クラスのメモリ・リダンダンシー(冗長性)機能を備えています。

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