「V93000」テストプラットフォーム用高速試験用計測器をMultiLane社と開発

2019/06/26 製品情報

50GHz帯域の新しい計測器により112Gbps(PAM4)の高速デジタルとアナログ試験に対応

株式会社アドバンテスト(本社：東京都千代田区 社長：吉田芳明)は、次世代デジタル高速インターフェースをコスト効率良く試験できる「V93000」テストプラットフォーム用の計測器をMultiLane社と共同開発しました。この計測器は、50GHz帯域のスコープ分析能力を持ちつつ、PAM4*方式で最大112Gbps、NRZ*方式で最大56Gbpsのテストデータレートを供給します。被測定デバイス(DUT)の近くに高周波数のリソースを配置することにより、シグナルインテグリティとテスト精度が大幅に向上しました。

AIやデータセンターなどで使用される次世代デバイスの試験に最適な、真に革新的なソリューションを提供するために、2社のリソースが結集しました。この新しい計測器は、「V93000」のデジタル・アナログの最高周波数限界を、最新の通信インフラの開発に不可欠なレベルにまで拡張します。また、このコラボレーションは、これまでの自動試験装置(ATE)ソリューションの枠を超え、ATEのDUTボードをMultiLane社の高周波数計測器と一緒にテストベンチで使用したり、テストベンチ用の計測やキャラクタリゼーション・ツールをATEで使用することができます。さらに、統合されたソフトウエア環境は、ベンチ装置の柔軟性とインタラクティブ性を保ちつつ、量産環境で計測器を制御管理可能にしました。

この新しい計測器は、MultiLane社が販売、サポートします。すでに複数の顧客と商談が進んでいます。

 

*PAM4, NRZ: データ伝送方式の一つ

MultiLane社について

製品テストおよび測定機器の大手プロバイダーであるMultiLane社は、112 Gbpsデバイスのat-speed実ウェハスケールテストおよび最終パッケージテストを提供しています。 MultiLaneは、10 Gbpsから400 Gbpsまでのデータレート用の相互接続機器と計測器を開発しています。 製品には、BERT、TDR、光および電気オシロスコープ、光スイッチボックス、またQSFP28、QSFP-DD、OSFPやその他の規格用のMSA準拠の開発ツールなどが含まれています。 MultiLaneはまた、コンプライアンステストサービスと完全に自動化されたテストソリューションを提供しています。 さらに、MultiLaneは、AdvantestのV93000プラットフォームなどの実ウェーハスケールの自動テストシステムに適合する高速ATEモジュールを開発しています。 MultiLaneの製品は、半導体、DAC、トランシーバ、およびシステムブレードのテストに使用されています。
詳しくは https://multilaneinc.com/ を参照ください。

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