オンライン展示会「Advantest Virtual Tradeshow」を開催
株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明)は、2020年3月11日~12日に当社初のオンライン展示会を開催いたしました。世界中の47社から約200名の方に参加いただき、新型コロナウイルスの感染拡大を防止しつつ、世界中のお客様と最新技術や業界の見通しといった情報を共有しました。
オンラインフォーラムのセッションでは、当社のプロフェッショナルや、エレクトロニクス製造サプライチェーンの国際的業界団体であるSEMIのエグゼクティブによるプレゼンテーションを配信しました。プレゼンテーションは全て録画されており、6月1日まで視聴いただけます。
視聴方法
以下のURLよりアクセスいただけます。
パスコードが要求されますが、「Advantest」とご入力ください。
Welcome and Overview
- 発表者:Judy Davies, VP, Global Marketing Communications, Advantest
- https://onlinexperiences.com/Launch
/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40
-4852-A992-EBDD58CAEE4C
Standalone (SA) & Non-Standalone (NSA) 5G NR Device Testing: MIMO and Carrier Aggregation
- 発表者:Dinesh Doshi, President, W2BI, an Advantest Group Company
- https://onlinexperiences.com/Launch
/QReg/ShowUUID=2986699F-3F95
-4807-B4E0-F6E091D16238
SEMI Update
- 発表者:Ajit Manocha, President 兼 CEO, SEMI
- https://onlinexperiences.com/Launch
/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40
-4852-A992-EBDD58CAEE4C
SEMI Market Outlook: Fab Investment, Equipment/Material Markets and New Asia Supply Chain
- 発表者:Christian Dieseldorff, Director Industry Research & Analysis, SEMI
- https://onlinexperiences.com/Launch
/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40
-4852-A992-EBDD58CAEE4C
5G NR Semiconductor Test Challenges
- 発表者:Sungjong Park, RF Test Engineer/Manager, Advantest Korea
- https://onlinexperiences.com/Launch
/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40
-4852-A992-EBDD58CAEE4C
Test Cell Management for Enabling Smart Manufacturing
- 発表者:Kyoungyong Kang, SoC UI Team Lead, Advantest Korea
- https://onlinexperiences.com/Launch
/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40
-4852-A992-EBDD58CAEE4C
Driving for Perfection: Finding the Optimum Test Solution for Next-Generation Automotive ICs
- 発表者:Masashi Nagai, Senior Executive Director, Strategic Planning Group, Advantest Korea
- https://onlinexperiences.com/Launch
/QReg/ShowUUID=45A7ED7F-6278
-4FFF-AE30-3D766CD28837
Low-Cost Solution for Ultra-High-Speed SerDes to RF Communication Test Via Onboard FPGA
- 発表者:Tang Mingjie, Application Engineer, Advantest China
- https://onlinexperiences.com/Launch
/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40
-4852-A992-EBDD58CAEE4C
A Programming Framework of Concurrent Test on SmarTest 7 for IPs That Share the Same Access Port
- 発表者:Tianyu Zhang, Application Engineer, Advantest China
- https://onlinexperiences.com/Launch
/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40
-4852-A992-EBDD58CAEE4C
5G NR Semiconductor Test Challenges(※ 韓国語)
- 発表者:Sungjong Park, RF Test Manager, Advantest Korea
- https://onlinexperiences.com/Launch
/QReg/ShowUUID=45A7ED7F-6278
-4FFF-AE30-3D766CD28837
Test Cell Management for Enabling Smart Manufacturing(※ 韓国語)
- 発表者:Kyoungyong Kang, SoC UI Team Lead, Advantest Korea
- https://onlinexperiences.com/Launch
/QReg/ShowUUID=45A7ED7F-6278
-4FFF-AE30-3D766CD28837
Low-Cost Solution for Ultra-High-Speed SerDes to RF Communication Test Via Onboard FPGA(※ 中国語)
- 発表者:Tang Mingjie, Application Engineer, Advantest China
- https://onlinexperiences.com/Launch
/QReg/ShowUUID=45A7ED7F-6278
-4FFF-AE30-3D766CD28837
A Programming Framework of Concurrent Test on SmarTest 7 for IPs That Share the Same Access Port(※ 中国語)
- 発表者:Tianyu Zhang, Application Engineer, Advantest China
- https://onlinexperiences.com/Launch
/QReg/ShowUUID=45A7ED7F-6278
-4FFF-AE30-3D766CD28837
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