メモリ・テスト・システムの新製品「H5620」を発売

高いスループットと多機能化により、お客様のテスト・コスト削減に貢献

株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区　社長：吉田 芳明）は、メモリ・ハイスピード・バーンイン・テスタの新製品「H5620」を発売しました。「H5620」は、メモリ・セル・テストとバーンイン・テストを統合した、多機能型チャンバータイプのDRAM、LPDDR向けテスト・システムです。

モバイル端末の高機能化やデータサーバの需要増などを背景に、半導体メモリの出荷ビット数は2023年までに倍増すると予想されています。一方で、メモリ・デバイスの価格競争は激しさを増し、デバイスメーカーは高生産性と低コストを兼ね備えたテスト・ソリューションを求めています。「H5620」は、100MHzの周波数と最大200Mbpsのデータレートで、18,000個以上のデバイスを同時に試験できます。工場自動化にも対応可能なほか、デュアル・チャンバー構造により-10°Cから150°Cという広い温度範囲で安定してテストできます。加えて、メモリ・テストとバーンイン・テストを統合した省スペースにより、お客様のテスト・コスト削減に貢献します。

「H5620」のシステムOSは当社のメモリ・テスト・システムで広く使われている「FutureSuite™」を採用しており、お客様がお持ちのソフトウエア資産をそのまま活用いただけます。また、ワールドワイドに配置されたサポートチームが、高品質な製品サポートを提供いたします。

「H5620」はお客様への出荷を開始しており、エンジニアリングモデル「H5620ES」も今年4-6月期より販売を開始する予定です。