Virtual Flash Memory Summit 2020に出展

フラッシュメモリ、SSDの最新テスト・ソリューションを紹介

株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区　社長：吉田芳明）は、11月10日～12日（PT：米国太平洋標準時）にオンライン開催される北米最大のSSDカンファレンス、Flash Memory Summit　2020に出展します。オンライン展示ブースにて、当社の最新のストレージおよびメモリテスト・ソリューションを紹介します。

おもな出展品

SSDテスト・システム「MPT3000」シリーズ

広範かつ迅速な試験温度設定と、高いスループットを兼ね備えたハイパワーSSD向けテスト・システム「MPT3000ARC」をはじめ「MPT3000」シリーズをご覧いただけます。PCIエキスプレスGen4などの高速プロトコル対応と、40-mm M.2やEDSFFなどさまざまな形状やサイズにも対応可能なフレキシビリティを備え、SSDの設計評価から量産に至るまで一貫してサポートします。

メモリ・テスト・システム「T5800」シリーズ

エンジニアリング環境から量産試験にいたるまで、DRAMおよびフラッシュメモリテストにおけるすべてのテストニーズをカバーします。中でも「T5851」はNANDフラッシュの高速プロトコル試験に、「T5833」はDRAMおよびNANDフラッシュのウエハ試験およびパッケージ試験に幅広くご利用いただけます。

皆さまのご来場を心よりお待ち申し上げております。