株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区 社長：吉田 芳明）は、このたび、SoCテスト・システム「T2000」向けにデジタル・モジュール「500MDM」および電源モジュール「DPS32A」を発表しました。SoCデバイス、パワーマネジメントIC、CMOSイメージセンサーなどさまざまなデバイスのテストに必要とされる機能を拡張し、コスト効率とエネルギー効率を高めながら、急成長するデジタル市場の期待に応えます。どちらの新モジュールも既存のT2000プラットフォームで使用することができ、コンパクトかつ空冷の「T2000 AiR」に実装が可能です。エンジニアリング用途から量産にいたるまで幅広い用途でご利用いただけます。
現在、急成長しているモバイル・エレクトロニクス市場向けの半導体デバイスでは、バッテリー駆動時間を伸ばすために低電力動作が求められています。これらのICをテストするためには、高精度のパラメトリック測定と電圧出力リソース、ディープ・スキャン・パターン・メモリを備え、微小電流と高速処理速度に対応していく必要があります。
新デジタル・モジュール「500MDM」は、最大500Mbpsのデータレート、32Gビット長のスキャン・パターン・メモリを備えています。モジュールは高性能パラメトリック測定ユニットを搭載し、さらに、各チャンネルで最大60mA（ミリアンペア）まで電流容量を拡大しています。
「500MDM」は、1A（アンペア）4V（ボルト）の電流電圧を供給可能な新電源モジュール「DPS32A」と合わせて使用することで、あらゆるタイプの民生用電子機器を扱えるよう設計されています。「DPS32A」の高分解能パラメトリック測定と連続サンプリング機能により、デルタIDDQ法やIDDスペクトラム法といった新しい試験を可能にします。また、微小電流を測定する能力を、前機種のDPS500ｍAよりもさらに向上させています。
T2000空冷テスト・プラットフォームは給水設備を必要とせず、どこでも設置可能です。従来のT2000シリーズと完全互換のソフトウエアと合わせて、優れた拡張性とフレキシビリティを提供します。「500MDM」や「DPS32A」と組み合わせることにより、空冷式テスタの中で、業界最速の動作スピードと最大スキャン・パターン・メモリを実現します。
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