CMOSイメージセンサ向け新テスト・モジュール T2000「4.8GICAP」を発表

2020/12/09 製品情報

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田芳明)はこのたび、T2000 テスト・プラットフォームの高速CMOS画像キャプチャ・モジュール「4.8GICAP(4.8ギガアイキャップ)」を発表しました。スマートフォン・カメラ向けに需要が急拡大しているCMOSイメージセンサ(CIS)のテストにおいて、「4.8GICAP」はCISから取り込んだデータをT2000の高性能イメージ・プロセッサ・エンジン(IPE)に効率的に転送します。64個のデバイスを同時測定できるほか、データ転送速度3.5GspsのC-PHY*バージョン1.2や、業界最速となる4.8GbpsのD-PHY*バージョン2.1に対応可能な、業界初の量産用テスト・ソリューションです。

現在、CISは生産量の75%がスマートフォン・カメラ向けと推計されています。1台のスマートフォンに複数のカメラが搭載されるようになった結果、CISの生産量は今後4年間で約40%増加することが見込まれています(当社調べ)。さらに、最新のCISは画素数が1億ピクセルオーダーに達しています。これらを背景に、高速動作と高い生産効率、そしてこれまでにない大量のデータを処理できるCISテスト・ソリューションへの需要が高まっています。

「4.8GICAP」は2バンクのメモリを使用して、画像のキャプチャと、T2000第3世代IPEへのデータ転送を同時に行い、テスト時間を大幅に短縮できます。また、従来のT2000 ISSテスタで使用するテストプログラム、プローバー、光源、およびデバイスインタフェースとの完全互換性を備えています。64個のCISデバイスの同測テストに加え、MIPI標準のD-PHYや最新プロトコルのC-PHYにも対応し、高速CISのテストに業界最高クラスのテスト性能を提供します。

さまざまな用途に対応可能なT2000テスト・プラットフォームにより、ユーザーは最小限の設備投資で市場ニーズの変化に速やかに対応できるとともに、新製品の開発工期を短縮できます。そのモジュラーアーキテクチャは、次世代の幅広いデバイステストに最適です。

「4.8GICAP」はすでに販売を開始し、複数の主要顧客のもとに出荷されています。なお、T2000テスト・プラットフォームの詳細については、以下URLをご参照ください。
https//www.advantest.com/products/ic-test-systems/t2000

*C-PHY, D-PHY
画像データをプロセッサやディスプレイへ伝送するインタフェース規格。モバイル機器間の接続標準化を目的とする組織「MIPI Alliance」が策定。イメージセンサにおける現在の主流がD-PHYなのに対し、C-PHYは3線伝送、埋め込みクロック、シンボルエンコード、多値伝送を用い、データ転送効率を約2.3倍に高めています。

T2000 4.8GICAP モジュール

※ 本ニュースリリースに掲載されている情報は、発表日現在の情報であり、時間の経過、または、さまざまな事象により予告無く変更される可能性がありますので、あらかじめご了承ください。