株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区 社長：吉田 芳明）は、8月2日(火)～4(木)にアメリカのサンタクララで行われる「Flash Memory Summit」に、ゴールド・スポンサーとして出展いたします（ブース番号：634）。当社の展示ブースでは、SSDテスト・システム「MPT3000」をはじめとした最新のPCIe Gen 5※1やCXL※2、NVMe※2に対応するテスト・ソリューションをご紹介します。
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※1高速データ転送の標準的入出力インタフェース規格である「PCIe Express」の最新第5世代
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※2CXL, NVMe：いずれもデバイス間の高速通信プロトコル（規格）の一種
出展製品
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SSDテスト・システム「MPT3000」
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NVMeのシステム・レベルのテストが可能なメモリ・テスト・システム「T5851-STM16G」
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高速メモリ・テスト・システム「T5835」
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NAND/NVMマルチ・ウェーハ・テスト・システム「T5221」
テクニカル・セッション
製品展示のほか、当社のアプリケーション・エンジニアがスピーカーとなり、以下2件の発表を行います。
8月2日(火) 8時35分～「ZNS: An Endurance Architecture - Part 1」
- 発表者：
- Kean-Yau Chaw
- テーマ：
- Challenges in Zoned Namespace Testing
8月4日(木) 13時25分～「TEST-302-1: Testing Part 1」
- 発表者：
- Justin Treon
- テーマ：
- Challenges in PCIe Gen 5 CXL Testing
アドバンテストについて
アドバンテストは、計測技術をコアテクノロジーとするテスト・ソリューションカンパニーです。1954年の創業以来、エレクトロニクスの発展とともに成長し、人びとの暮らしの「安心・安全・心地よい」をサポートしてきました。主力製品となる半導体試験装置は世界最大手であり、当社の海外売上高比率は9割を超えています。アドバンテストは、「先端技術を先端で支える」という企業理念のもと、進展著しいデジタル社会のインフラストラクチャーである半導体の品質や信頼性の向上を通じて、社会の持続可能な発展に寄与しています。詳しくは当社ウェブサイト(www.advantest.com/ja/)をご参照ください。
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