株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区、代表取締役 Group CEO:Douglas Lefever、以下「当社」)は、2026年5月18日から20日に米国アリゾナ州スコッツデールで開催される「VOICE 2026 Developer Conference(VOICE 2026)」において、AllianceATE社のソフトウェアプラットフォーム「Velocity™」と、当社のSoCテストシステム「V93000」を組み合わせた統合ソリューションを紹介することを発表しました。
当社が2025年9月にAllianceATE社を買収して以来、AllianceATE社独自のソフトウェア機能をV93000のソフトウェアエコシステムに戦略的に統合するため、両社のチームは緊密に連携してきました。本取り組みは、設計からテストまでを一貫してつなぎ、シームレスな顧客体験を実現するという当社の長期的な戦略を具現化するものです。
AllianceATE社の電子設計自動化(EDA)プラットフォームであるVelocity™は、半導体の設計データを起点にテストプログラムの生成を行う「Design to Test」を実現する高度なソリューションです。多くの顧客にとって、設計データをもとにテストプログラムへと変換するプロセスには、カスタムコードや専用ツールの開発に数週間を要するケースも少なくありません。Velocity™は、V93000向けに専用設計されており、大規模な並列処理を活用して設計ファイルを直接アドバンテストのテスタにストリーミングすることが可能です。さらに、Velocity™の「REPLAY」技術を活用することで、「一度で正しく動作する(first time right)」テストパターンの生成を実現し、設計データに基づく迅速な立ち上げと展開を可能にします。
当社は、市場をリードするV93000プラットフォームと、Velocity™の自動化機能およびREPLAY技術を組み合わせることで、今日のAIおよびハイ・パフォーマンス・コンピューティング(HPC)デバイスに求められる規模、複雑性、スピードに最適化されたソリューションを提供します。
当社 代表取締役 Group CEO Doug Lefever コメント
昨年の買収が成功を収めた背景には、20年以上にわたる両社の協業があり、AllianceATEのEDAツールがアドバンテストの主力テストソリューションと高い親和性を備えていることが示されています。同社のEDA技術を当社の製品ポートフォリオと組み合わせることで、設計部門とテスト部門の連携がさらに進み、半導体開発ライフサイクル全体の効率化を実現できます。Velocity™は真のDesign to Testを可能にし、お客様がこれまで以上に早い段階で品質確保に取り組むことを支援するとともに、自動化、効率性、拡張性の新たな可能性を切り開きます。
Velocity™の長年のユーザーであるArm社も、本統合の価値を強調しています。
Arm社 Senior Director of Product and Test, Raghudhar Maddali氏 コメント
AIや先端コンピューティングシステムがますます複雑化する中、より効率的なDesign to Testワークフローは業界全体にとって不可欠です。Velocity™をV93000プラットフォームと統合するソリューションにより、テストコンテンツの生成プロセスが簡素化され、開発プロセス全体の効率向上が実現しています。
5月18日(月)および5月20日(水)に実施されるVOICEのテクノロジーキオスクでは、AI時代における高度な設計フローをVelocity™がどのように実現するかを、AllianceATE社がインタラクティブなデモンストレーションとともに紹介する予定です。昨年300名以上が参加したVOICEは、主要顧客と直接対話し、最新のイノベーションを紹介しながら、業界内のつながりを深める貴重な場を提供しています。
アドバンテストについて
アドバンテスト(東証プライム:6857)は、半導体の設計・製造工程で使用される半導体試験装置およびテストソリューションを提供する、世界的リーディングカンパニーです。当社の製品とソリューションは、ハイ・パフォーマンス・コンピューティング(HPC)、人工知能(AI)、自動車、産業機器、民生機器など、さまざまな用途の半導体の品質と信頼性を支えています。1954年に東京で創業したアドバンテストは、世界各地に拠点を有するグローバル企業で、サステナビリティならびに社会的責任に配慮した企業活動に取り組んでいます。当社の先進的なテストシステムは、世界中の最先端半導体製造ラインに導入されています。また、半導体バリューチェーン全体をカバーする幅広いテストソリューションを展開しており、半導体製造の前工程におけるウェーハテストや、後工程で行われるファイナルテストに対応する先進的なソリューション、設計検証およびシリコン検証、システムレベル・テストソリューションのほか、テストハンドラやデバイスインタフェースなどの周辺機器、フォトマスク製造に不可欠な走査型電子顕微鏡、半導体の歩留まり向上に貢献するデータアナリティクスソリューションなどを提供しています。詳しくは当社ウェブサイト(www.advantest.com/ja/)をご覧ください。
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