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2018-10-10 00:00:00.0 Products

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明)は、次世代のメモリ・バーンイン・テスタ「B6700D」を発表しました。メモリ市場が「スーパー・サイクル」に入りテスト需要が増加する中、バーンイン工程を高スループット化することにより、テストコスト削減を実現します。

「B6700D」は、最大10MHzの速度で最大48枚のバーンイン・ボードを並列にテストできます。顧客はテストコストを削減するとともに、新製品をより早く市場投入することが可能になります。従来機種に比べ、1枚のバーンイン・ボード毎に最大2倍となる256Aの電源電流を供給できるとともに、ドライバ・ピンも2倍になり高速テストが可能になります。将来、NANDの多層化がさらに進んだとしても、同時測定個数が減ることはありません。また、チャンバーは0.1℃単位で制御が可能です。

「B6700D」は従来機種の「B6700」と同じOSを使用しており互換性があります。Bad block memory (BBM)、 Universal buffer memory (UBM)、Data pattern memory (DPM)機能もサポートしており、NANDフラッシュ試験に最適です。

「B6700D」は、すでに顧客への出荷を開始しています。

B6700D

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