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Jul 30, 2019 Topics

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明)は、8月6日(火)~8日(木)にアメリカのサンタクララで行われる「Flash Memory Summit」に出展します。

主な出展品

展示ブース(ブース番号606)では、広範囲な温度試験と高いスループットを兼ね備えたSSDテスト・システムの新製品「MPT3000ARC」を含む、「MPT3000」シリーズを実機展示します。40mm M.2からEDSFFに至るまで、SSDのさまざまなサイズや形状に対応可能な、最新のテスト・ソリューションをご覧ください。

また、DRAMとNANDフラッシュメモリの両方をカバーし、設計評価からウエハ試験、パッケージ試験まで幅広く対応可能なメモリ・テスト・システム「T5800」シリーズもご紹介します。

プレゼンテーション

"Challenges of Testing PCIe Gen4 SSDs (and Beyond)"
発表者:Justin Treon 日時:8月7日(水) 午後3:20 ~ 午後4:25

皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。

本ニュースリリースに掲載されている情報は、発表日現在の情報であり、時間の経過、または、さまざまな事象により予告無く変更される可能性がありますので、あらかじめご了承ください。