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Nov 4, 2019 Topics

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明)は、11月12日~14日にワシントン・マリオット・ワードマンパークホテル(アメリカ・ワシントンDC)で開催される、半導体テストに関する世界最大の学会「International Test Conference(ITC)2019」にて、プラチナ・サポーターとして出展ならびに論文発表を行います。また、12日の夕方に開催される「50th Celebration」および14日~15日に開催されるTest Technology Technical Council(TTTC)主催の「Automotive Reliability and Test(ART)Workshop」についても、スポンサーとしてサポートします。

展示ブース(ブース番号209)では、オンデマンド型テスト・ソリューション「CloudTesting™ Service」、計測システム「EVA100」の車載電流センサ向け最新テスト・ソリューション、クラウドによる大容量のデータ処理能力とエッジコンピューティングAIによるリアルタイムなデータ処理能力を兼ね備えた新しいツールなどをご紹介いたします。

「CloudTesting™ Service」は、半導体テスト・プログラムを月額ライセンスで、いつでも必要な分だけ使用する事ができる、業界で最初のサービスです。お客様は、設計したデバイスの評価環境を、わずかな費用と時間で用意できます。テスタ本体のリース費用は不要、メンテナンス費もごく小額です。「CloudTesting™ Service」は、お客様をメンテナンスの煩わしさや、予期せぬ運用コストから解放します。

モジュラー構造の計測システム「EVA100」は、高電圧・高精度のアナログ・パラメトリック試験が可能です。アナログICやミクスド・シグナルICの、設計評価から量産までフレキシブルに対応し、お客様の製品ポートフォリオの拡張やテストコスト削減に貢献します。

展示ブース(ブース番号415)では、オンデマンド型テスト・ソリューション「CloudTesting™ Service」、アナログ、ミクスド・シグナル、センサーIC向け計測システム「EVA100」、電子回路の故障箇所を高精度に解析可能なテラヘルツ・システム「TS9000 TDRオプション」を展示します。

「CloudTesting™ Service」は、半導体テスト・プログラムを月額ライセンスで、いつでも必要な分だけ使用する事ができる、業界で最初のサービスです。お客様は、設計したデバイスの評価環境を、わずかな費用と時間で用意できます。当社の展示ブースでは、実機を使用したライブ・デモンストレーションにより、いかに早くデバイスが評価できるかご覧いただけます。テスタ本体のリース費用は不要、メンテナンス費もごく小額です。「CloudTesting™ Service」は、お客様をメンテナンスの煩わしさや、予期せぬ運用コストから解放します。

モジュラー構造の計測システム「EVA100」は、高電圧・高精度のアナログ・パラメトリック試験が可能です。アナログICやミクスド・シグナルICの、設計評価から量産までフレキシブルに対応し、お客様の製品ポートフォリオの拡張やテストコスト削減に貢献します。

ポスターセッション

【11月13日(水)11時30分から13時30分(会場:Exhibit Hall)】
題名
CloudTesting™ Service Enables Board-Level Post-Silicon Debug
発表者
R. Radhakrishnan、A. Kashyap、S. Panigatti、Y. Oyama、A. Sivaram
題名
High-Volume Consumer Devices Need High-Voltage Test Solution
発表者
A. Lum、B. Wang、R. Waikar、A. Sivaram
題名
An Effective INL Test Methodology for Low-Sampling-Rate and High-Resolution Analog-to-Digital Converter
発表者
K. Sato、T. Ishida、T. Okamoto、T. Ichikawa、H. Kobayashi、K. Hatayama、T. Nakatani、A. Kuwana、J-L. Wei、N. Kushita、H. Arai、L. Sha

技術セッション

【11月11日(月)14時から(会場:Washington 4)】
題名
Test Challenges Meeting
発表者
AMD社 Jeff Rearick
題名
Shifting Left for True KGD
発表者
D. Armstrong

論文発表

【11月13日(水)15時から16時30分(会場:Washington 2)】
題名
A Jitter Injection Module for Production Test of 52-Gbps PAM-4 Signal Interfaces
発表者
K. Ichiyama、T. Kusaka、M. Ishida
【11月13日(水)15時から16時30分(会場:Washington 4)】
題名
A New Test Method for Large-Current Magnetic Sensors
発表者
T. Omuro、S. Nakamura、T. Kimura、T. Kiyokawa

パネルセッション

【11月14日(木)13時30分から15時(会場:Washington 2)】
題名
Roadblocks for the Hetrogeneous Integration Roadmap in Test
登壇
D. Armstrong(パネリスト)

トークセッション

【11月14日(木)15時から16時30分(会場:Ballroom)】
題名
Semiconductor Test - Towards a Data Driven Future
発表者
K. Schaub

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