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Mar 5, 2020 Topics

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明)は、2020年3月11日~12日に、半導体市場の最新技術やトレンドに関する展示会をオンライン上で開催いたします。

新型コロナウイルスの感染拡大を防ぐため、世界各地で展示会やイベントが中止ないし延期となっています。そこで当社は、オンライン会議システムを利用し、当社のプロフェッショナルによる最新の半導体試験技術に関するプレゼンテーションや、お客様とのコミュニケーションの機会を提供いたします。さらにオンラインフォーラムでは、エレクトロニクス製造サプライチェーンの国際的業界団体であるSEMIのシニアエグゼクティブに、業界および市場の見通しについてお話しいただきます。

プレゼンテーションはインタラクティブな形式で開催され、お客様はプレゼンターに質問することができます。プレゼンターの使用言語は様々ですが、多くのお客様にお楽しみいただけるよう、英語、中国語、韓国語の翻訳が提供されます。また、プレゼンテーションは全て録画され、オンライン展示会の終了後も閲覧することができます。

皆さまのご参加を心よりお待ち申し上げております。

スケジュール

※日時は日本時間、但し書きが無い場合は英語で発表

1日目(3月11日)

0:00~

Standalone (SA) & Non-Standalone (NSA) 5G NR Device Testing: MIMO and Carrier Aggregation
発表者: W2BI.COM, Inc. President, Dinesh Doshi

9:00~ Welcome and Overview
発表者: Advantest America Global Marketing Communications Vice President, Judy Davies
9:30~ SEMI Update
発表者: SEMI President兼CEO, Ajit Manocha
10:00~ SEMI Market Outlook: Fab Investment, Equipment/Material Markets and New Asia Supply Chain
発表者: SEMI Industry Research and Statistics Director, Clark Tseng
10:30~ 5G NR Semiconductor Test Challenges
発表者: Advantest Korea RF Test Engineer/Manager, Sungjong Park
11:00~ Test Cell Management for Enabling Smart Manufacturing
発表者: Advantest Korea SoC UI Team Lead, Kyoungyong Kang
11:30~ Driving for Perfection: Finding the Optimum Test Solution for Next-Generation Automotive ICs
発表者: Advantest Korea Strategic Planning Group Senior Executive Director, Masashi Nagai
12:00~ Low-Cost Solution for Ultra-High-Speed SerDes to RF Communication Test Via Onboard FPGA
発表者: Advantest China Application Engineer, Tang Mingjie
12:15~ A Programming Framework of Concurrent Test on SmarTest 7 for IPs That Share the Same Access Port
発表者: Advantest China Application Engineer, Tianyu Zhang
12:30~ Closing Remarks
発表者: Advantest America Global Marketing Communications Vice President, Judy Davies

2日目(3月12日)

10:00~ Welcome and Overview
発表者: Advantest America Global Marketing Communications Vice President, Judy Davies
10:30~ 5G NR Semiconductor Test Challenges ※韓国語
発表者: Advantest Korea RF Test Manager, Sungjong Park
11:00~ Test Cell Management for Enabling Smart Manufacturing  ※韓国語
発表者: Advantest Korea SoC UI Team Lead, Kyoungyong Kang
11:30~ Driving for Perfection: Finding the Optimum Test Solution for Next-Generation Automotive ICs
発表者: Advantest Korea Strategic Planning Group Senior Executive Director, Masashi Nagai
12:00~ Low-Cost Solution for Ultra-High-Speed SerDes to RF Communication Test Via Onboard FPGA ※中国語
発表者: Advantest China Application Engineer, Tang Mingjie
12:15~ A Programming Framework of Concurrent Test on SmarTest 7 for IPs That Share the Same Access Port ※中国語
発表者: Advantest China Application Engineer, Tianyu Zhang

プレゼンテーションへの参加方法

プレゼンテーションはストリーミングに配信つき、電話回線ではなくコンピューター回線を使用して参加することを推奨します。VPN接続は使用せず、インターネットから直接アクセス願います。

また、ブラウザのポップアップブロック機能が解除されていないと、一部コンテンツについて視聴できない場合があります。システム要件については FAQをご覧ください。通信テストを行いたい場合は、こちらから実施することができます。

3月11日0時のセッションは以下のURLよりご参加ください。

https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=2986699F-3F95-4807-B4E0-F6E091D16238
電話回線で参加される場合は、以下の番号におかけください

  • 北米地域から参加する場合のダイヤルイン: 1-866-448-1422
  • それ以外の地域から参加する場合のダイヤルイン: 1-720-405-1599
  • 会議番号: 3865889

3月11日9時以降のセッションは以下のURLよりご参加ください。

https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40-4852-A992-EBDD58CAEE4C
電話回線で参加される場合は、以下の番号におかけください。

  • 北米地域から参加する場合のダイヤルイン: +1-866-448-1422
  • それ以外の地域から参加する場合のダイヤルイン: +1-720-405-1599
  • 会議番号: 3988872

3月12日のセッションは以下のURLよりご参加ください。

https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=45A7ED7F-6278-4FFF-AE30-3D766CD28837
電話回線で参加される場合は、以下の番号におかけください。

  • 北米地域から参加する場合のダイヤルイン: +1-866-448-1422
  • それ以外の地域から参加する場合のダイヤルイ: +1-720-405-1599
  • 会議番号: 8970228

本ニュースリリースに掲載されている情報は、発表日現在の情報であり、時間の経過またはさまざまな事象により予告無く変更される可能性がありますので、あらかじめご了承ください。