歩留まり低下の原因を特定し、テスト結果解析を効率化するAI搭載ソフトウェア・ソリューション
ACS EASY™は、独自のAI技術を採用したユーザーに優しいソフトウェア・ソリューションです。自動的にイールド問題を解析することで、エンジニアの負担を軽減し、速やかな問題解決を可能とします。
半導体製造において、デバイスの歩留まりは重要なパフォーマンス指標となります。デバイスの歩留まりを向上させるためには、設計データの絶え間ないデバッグと調整が必要です。
「ACS EASY™」は、半導体ウェーハ・テストの歩留まり低下の根本原因を速やかに特定し、テスト結果解析の効率化を低コストで実現するソリューションです。テスト条件をAIが自動監視することで、歩留まり低下の原因を切り分け、分析します。これにより、生産工程でネックとなる問題をタイムリーに解決し、トラブルシューティングの時間を短縮するとともに、データ解析のための作業負荷を劇的に軽減します。
ACS EASY™の機械学習は、獲得した経験と判断を基に、新たな歩留まり問題を分類する機能を活用して、本来人間がすべき判断を、速やかに精度良く行います。これらの知識体系の蓄積は、さらなる推論精度の向上をもたらします。膨大なデータを扱うことができるACS EASY™は、新しいロットのウェーハ・テスト結果を過去のロットのものと比較し、製造物の異常な傾向を素早く特定することができます。また、結果を簡単にオンライン共有できるGUIを備え、ユーザーは個別にレポートを作成する必要もなくなります。
ACS EASY™は、半導体の設計専業会社（ファブレス）から組立・テストを受託する企業（OSAT）まで幅広いユーザーにお使いいただけます。インストール方法も簡単で、コスト面でも容易に導入可能です。 ACS EASY™は誰でも直感的に操作することができ、オペレーターがAIや機械学習、データ分析、統計学に精通している必要はありません。テスト・エンジニアはデータ・サイエンティストにならずとも簡単にデータを使いこなすことができます。
ACS EASY™の特長：
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STDF(Standard Test Data Format)やデータベースからの高速データ統合
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歩留まり 原因の特定とウェーハ・パターン解析を含む機械学習機能
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HTMLベースのグラフィカル・ユーザー・インタフェースでウェーハ・マップ、測定値ヒストグラムなどの基本的なデータを可視化
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サーバ上のデータをユーザーが共有できるアーキテクチャにより、 シームレスなチームコラボレーションを実現
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ACS EASY™のAPI （Application Programming Interface）を利用することで、お客様自身がACS EASY™と連携したソフトウェアを作成し、解析を自動化することが可能
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コンテナ化技術によりウェブアプリケーションとして簡単にインストール可能
ユーザーのメリット：
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歩留まりの改善を低コストで実現
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歩留まり低下の根本原因の特定
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検査結果の分析効率向上
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膨大なデータ量を自動処理し、製造物の異常な傾向を素早く学習・特定
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簡単にインストール可能
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直感的な操作性
- 概要
- ACS RTDI™
- ACS Dynamic Parametric Test powered by PDF Exensio®
- ACS Adaptive Probe Cleaning™ (APC)
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ACS EASY™(ACS Engineering AI Studio for Yield Improvement)
- ACS TE-Cloud™