Burn-in Board

デバイス・インタフェース

多数個同時測定によりテストコスト削減を実現したバーンイン・ボード

多数のデバイスを搭載するバーンイン・ボードをテスト・システムで並列動作させることで、デバイスの信頼性保証とテストコスト削減に貢献します。対象デバイスに合わせた多彩なラインアップを用意し、高精度シミュレーションを用いた設計により高性能、高品質な製品を提供します。

FLASH ROM向け(B6700用)

対象デバイス : Raw NAND / eMMC / eMCP / UFS / PCM など

DRAM向け(H5620用)

対象デバイス : DDR / LPDDR など

ExcelPDF