多数のデバイスを搭載するバーンイン・ボードをテスト・システムで並列動作させることで、デバイスの信頼性保証とテストコスト削減に貢献します。対象デバイスに合わせた多彩なラインアップを用意し、高精度シミュレーションを用いた設計により高性能、高品質な製品を提供します。
対象デバイス : Raw NAND / eMMC / eMCP / UFS / PCM など
対象デバイス : DDR / LPDDR など