T2000

SoCテスト・システム

MODEL IMAGE

多様化するテスト・ニーズに対応、“フレキシブル・プラットフォーム”T2000

世代交代が激しく、少量多品種が求められるSoCデバイス。これに対応したテスタを2-3年サイクルで入れ替えるのは、半導体メーカにとって大きな負担です。T2000はモジュール・アーキテクチャを採用し、用途に応じて必要な機能をモジュール単位で組み替えることにより、フレキシブルに再構成が可能です。 デジタル、高性能アナログ、パワー・ミクスド・シグナル、そしてイメージ・キャプチャなど、豊富な機能モジュール群で幅広いテスト・カバレッジを実現し、最適なコストでソリューションを提供します。

また、T2000は最小9スロットの空冷システムから、最大8,192 チャンネル増設可能な52スロットの液冷システムまで幅広く対応します。 開発、少量生産向けに初期投資を抑えることから、量産向けには高効率な多数個同時測定により低コスト試験が可能です。T2000は最小限の設備投資で市場ニーズに迅速に応えます。

img_t2000_general_v2

半導体デバイスは機能拡張と多機能化が進む一方、開発期間の短縮が要求されています。そのような半導体デバイスのテストにT2000が活躍します。

Time to Marketの短縮　－　マルチ・セッション

デバイス評価用テスト・プログラムを効率的に開発、かつ投資を最小限にする事が可能です。T2000ならではのマルチ・サイトCPUアーキテクチャにより、複数のユーザーが1台のテスト・システムに同時にログインし、各々が完全に独立して個別のデバッグ作業を行うことができます。最大8名が同時に作業を進められ、エンジニアリング・コスト削減とTime To Market短縮の双方に貢献します。また、同一のデバイスに対して8名が別々に個別の機能を同時開発する事ができ、開発期間の大幅な短縮が可能です。

最高レベルの同時測定効率　－　マルチ・サイト・コントローラ

同時測定するDUT(Device Under Test)が増えれば増えるほどオーバーヘッドが発生し、一般的にはテスト・タイムは長くなる傾向にあります。しかし、T2000はオーバーヘッドを完全に排除した高効率なマルチ・サイト試験により、テスト・タイムを削減し、高スループットを実現します。

テスト・タイム削減　－　コンカレント・テスト

複雑化するデバイス試験をより短時間で実行できるように、T2000はコンカレント・テスト機能をサポートしています。複数テスト・アイテムの順次実行と並列実行をシームレスに切り替えることができるため、以前と比べコンカレント・テストが容易に実現できるようになりました。また、コンカレント・テスト機能により、テスト・タイムを短縮したテスト・プログラムを、短期間で開発することができます。

テスト・コスト低減

最大8,192chのデジタル・チャンネルを搭載することで、当社従来比2倍以上の多数個同時測定が可能となります。

T2000 Product Lineup

img_t2000 Product Lineup

ソフトウェア

img_t2000ソフトウェア
  • Windowsを基本OSに採用したオープンな開発環境
  • RDK（Rapid Development Kit）環境による、簡略化されたプログラム・コーディング環境、高いコード再利用性、素早く作業できるデバッグ環境の提供
  • T2000 System Software Emulatorを使用した多様なオフライン環境
  • 充実したツール群: Wave Tool (Logic Analyzer, Oscilloscope), Shmoo, Pattern Editor, etc.
  • Instrument Slicing, Test Condition Runtime Optimizer, Multi-session, Concurrent Test Flows

SoC Test Solution

多機能化が進むデジタル家電向けSoCデバイスを高パフォーマンス、低テスト・コストで最適に試験します。

豊富な機能を高精度に実現

img_t2000_0004_en

アナログ・モジュールの広範囲なカバレッジ

日々進化を続けるデジタル・コンシューマ市場では、デバイスに求められる機能もより高度化・多様化の傾向にあります。T2000テスト・システムでは、

  • 複数の周波数ドメインを同時に試験できるマルチ・タイム・ドメイン機能
  • 多数個同時測定により低テスト・コストを実現する1GDM, 1.6GDM
  • 高密度実装で96chの電源をサポートするDPS192Aモジュール
  • 高性能オーディオからビデオ、ベースバンド帯までのフル・スペック試験をカバーするアナログ・モジュール（BBWGD/GPWGD）
  • ADC/DACのリニアリティ試験を高精度に実現するPMU32Eモジュール
  • 高速インタフェースを有するデバイス試験に対応した8GDM

などのラインナップを取り揃えており、これらを自由に組み合わせることでお客様に最適なデジタル・コンシューマ・デバイスのテスト・ソリューションを提供します。

Wireless Test Solution

次世代ワイヤレス通信システムに対応したテスト・ソリューションを提供します。

RFベクトル信号発生器と解析器を各4台、1モジュールに集積したWLS32-A

  • 高性能VSG/VSA搭載、80MHz帯域までの多様な変調信号発生／テストに対応可能
  • 高速セットリング・シンセサイザにより、テスト時間の高速化を実現
  • 業界最高のRFポート数（1モジュールあたり32ポートで128ポートまで拡張可能）を実現、日々進化するMIMOデバイスやトランシーバなどの多数個同測をサポート
  • 高速モード、高C/Nモード、2つのシンセサイザ・モードを採用、同一モジュールで特性評価から量産までテスト・ソリューションを提供
  • リファレンス信号入力に対応した低ノイズ、低ジッタのプログラマブル基準信号発生器を内蔵
  • 高リニアリティで歪の少ない2トーン信号生成用コンバイナを内蔵、デバイスに対し＋28dBm（@2.2GHz、－12dBm）以上のIP3出力を実現
  • 4DUT同時測定に必要な機能（パラレル信号発生/測定）を最低限のコストで実現
img_t2000_0006_en

Integrated Power Device Test Solution

img_t2000_0009_en

車載・産業用及びパワー・マネジメント用デバイスを高性能、かつ高スループットでテストするソリューションを提供します。

新しいスタンダードを提案

  • 多機能なミクスド・シグナル・アーキテクチャによる柔軟性と使いやすさの追求
  • 複数個同時測定でテスト・コストの削減を実現
  • パターンと同期したテスト条件変更によるスループット向上
  • チャンネル毎の時間測定機能でテストの効率化を実現
  • クロス・ファンクション・ポート、マトリクス機能を用いた同測用テスト・ボード作製の容易化
  • 業界最速のパフォーマンスを実現
    （高速レンジ切り替え、最適化されたリレー切り替え時間、並列動作ハードウェア機構）
  • RDK（Rapid Development Kit）ソフトウエア環境による、簡略化されたプログラム・コーディング環境、高いコード再利用性、素早く作業できるデバッグ環境の提供
  • 同一プラットフォームにて低電圧コミュニケーション向けPMICから高電圧車載向けASSPまで幅広いデバイス品種群に対応

パワー・ミクスド・シグナル試験のための最適なモジュール群

CMOS Image Sensor Test Solution

最先端の高速インタフェースを搭載した、最新のCMOSイメージ・センサの測定に柔軟に対応しながら、テスト・コストを最小限に抑えるテスト・ソリューションを提供します。

イメージ・センサの多機能化にフレキシブルに対応

AD/DAやロジック回路など様々な機能を内蔵するCMOSイメージ・センサ。
T2000は、イメージ・センサ試験に求められる機能に合わせて測定モジュールを自由に組合せた、スケーラブルなシステム構成が可能です。

4.8Gbps高速画像取り込みを実現

スマートフォン、セキュリティ・カメラ、車載／産業用カメラなどの製品に搭載されるCMOSイメージ・センサの画像出力を取り込むことが可能です。
2バンク構成のメモリ機能を有し、データ格納とIPエンジンへのデータ転送を併行処理することで、テスト時間の短縮に貢献します。

差動入力
MIPI D-PHY V2.1：4.8Gbps
MIPI C-PHY V1.2：3.5Gsps
MIPI A-PHY®　*Option

キャプチャ・メモリ：1,024M pixel x 2bank
最大64,000フレーム数の連続画像データ格納可能

高画素化するイメージ・センサに向けた高速画像処理エンジン

最新のIPE4 (Image Processing Engine 4)は、ヘテロジニアス・コンピューティング技術を採用した高速画像処理を実現しました。　専用に開発した画像処理ライブラリと併せて使用することにより、超高画素化による試験時間の増加を最小限にします。

最大64個同時測定によるテスト・コスト削減

イメージ・センサ・チップの高生産性と試験コスト低減を可能にする、多数個同時測定を実現。
業界最大の照射エリアを有した光源を搭載することで、最大64個同時測定を可能にします。

CMOSイメージ・センサ用T2000モジュール構成

Scalable System Configuration

  R&D, Small Lot Production Mid Volume Production High Volume Production
  img_t2000_0013_en img_t2000_0004 img_t2000_0003
Parallel Test 16 32 64
Main Frame LSMF LSMF LSMF+EXMF
Test Head 13 slot 46 slot 46 slot

Digital

1GDM/1.6GDM
T2000 256ch 1Gbps / 1.6Gbps デジタル・モジュール

最大1.6Gbps、256 I/Oチャンネルを搭載した デジタル・モジュールです。
SCANやALPGなどのパターン発生器やパー・ピンPMUを備え、MPU、FPGA、MCUなど様々なデバイスの試験要求に応える標準的な機能を搭載しています。

2GDME
T2000 256ch エンハンスド 2Gbps デジタル・モジュール

最大2Gbps、256 I/Oチャンネルを搭載した デジタル・モジュールです。
車載向けの電圧出力試験にも対応可能です。

500MDM
T2000 128ch 500Mbps デジタル・モジュール

最大500Mbps、128 I/Oチャンネルを搭載した空冷の デジタル・モジュールです。
1GDMと同等の機能を備え、T2000 AiRと組み合わせることにより、省スペースなシステムを構築できます。

8GDM
T2000 8Gbps デジタル・モジュール

最大動作スピード8Gbpsによる高速試験が可能で、最大でモジュールあたり96I/Oチャンネルを備えています。
シリアルおよびパラレルのインタフェースを効果的に試験することが可能です。

DPS / VI

DPS32A
T2000 32ch デバイス電源 32A

DPS32Aモジュールは、試験対象デバイスへの電源供給に使用します。
32ch, チャンネルあたり最大1Aの電流供給能力を備えています。
T2000 AiRと組み合わせることにより、省スペースなシステムを構築できます。

DPS90A
T2000 64ch デバイス電源 90A

DPS90Aモジュールは、試験対象デバイスへの電源供給に使用します。
チャンネルあたり最大2Aの電流供給能力を持つ2A_Functionと、チャンネルあたり最大0.8Aの電流供給能力を持つ0.8A_Functionを備えています。

DPS192A
T2000 96ch デバイス電源 192A

DPS192Aモジュールは、試験対象デバイスへの電源供給に使用します。
最大電流供給能力の異なる3A_function/2A_function/1A_functionを備えており、試験対象デバイスへより効率的な電源供給を行います。

DPS150AE
T2000 エンハンスド・デバイス電源150A

DPS150AEモジュールは、試験対象デバイスへの電源供給に使用します。
チャンネルあたり最大16Aの電流供給能力を持つHC_Functionと、チャンネルあたり最大2.66Aの電流供給能力を持つLC_Functionを備えています。
並列運転による1000A以上の電流供給が可能です。

PMU32E
T2000 32ch エンハンスド・ マルチパーパス・パラメトリック測定ユニット

PMU32Eモジュールは、電圧発生電流測定機能／電流発生電圧測定機能を備えており、DCパラメトリック試験やADコンバータ／DAコンバータのDCリニアリティ試験を行います。

Analog / RF

GPWGD (HR)
T2000 32ch 汎用 任意波形発生器/デジタイザ

GPWGDモジュールは、汎用任意波形発生器、汎用波形デジタイザ、基準電圧発生器、パラメトリック測定ユニットから構成され、オーディオやビデオ機器などのアナログ測定に対応します。
デジタル・オーディオ機器に要求される高いダイナミック・レンジ特性を備えています。

BBWGD
T2000 16ch ベースバンド 任意波形発生器/デジタイザ

BBWGDモジュールは、ベースバンド任意波形発生器、ベースバンド波形デジタイザ、クロック・ジェネレータ、パラメトリック測定ユニットから構成され、ベースバンド信号の高精度な測定に対応します。

WLS32-A
T2000 12GHz 広帯域信号発生/測定モジュール

WLS32-Aモジュールは、RF信号の発生機能、解析機能、インピーダンス測定機能およびリファレンス・クロック信号の発生機能を備えており、携帯電話や無線LANなどのRF測定に対応します。

Automotive / PMIC

MMXHE
T2000 MMXHE モジュール

MMXHE（Multi-function MiXed High Voltage）モジュールは、高電圧振幅を持つデジタル・チャンネルとPMU（Parametric Measurement Unit）チャンネルをそれぞれ32ch持つ多機能ミクスド・シグナル・モジュールです。このデジタル・チャンネルとPMUチャンネルは、相互に入出力を切替え可能です。各PMUチャンネルには、チャンネル間同期が可能な任意波形発生器（AWG）とデジタイザ（DGT）が搭載されています。また、時間測定はピン毎に各種リソースから実施でき、他にもすべてのチャンネルにアクセスできる差動電圧計とIDDQ試験機能を持ちます。

MFHPE
T2000 MFHPE モジュール

MFHPE（Multi-function Floating High Power）モジュールは、18chのフローティングVIリソースを持つ多機能パワー・ミクスド・シグナル・モジュールです。パルスおよび静的条件でのデバイス電源および負荷リソースとして使用できます。複数チャンネルを直列や並列に接続することで、高電圧化および、電流容量の増加要求に対応することができます。さらに、各VIリソースには、電圧または電流モードにおける変調のための任意波形発生器（AWG）、および電圧と電流を同時に測定するデジタイザ（DGT）が搭載され、時間測定においてもチャンネル毎に各種リソースから測定できます。

MPCM
T2000 MPCM モジュール

MPCM（Multi-function Power Cross point Matrix）モジュールは、MFHPEのチャンネルを複数のDUTピンに接続することを可能にします。専用GNDにより同じアプリケーション上でフローティング測定およびグランド基準測定がおこなえます。また、PMU（Parametric Measurement Unit）により、並列コンタクト試験、ケルビン・チェック、パラメトリック試験を実施することができます。

Image Sensor

4.8GICAP
T2000 4.8Gbps イメージ・キャプチャ・モジュール

4.8G ICAPモジュールは、CMOSイメージ・センサのテストに使用します。
MIPI標準規格 D-PHY Ver.2.1及び、C-PHY Ver.1.2に対応した画像データを、高速にキャプチャ可能なモジュールです。
D-PHYは、1CHあたりクロック1ペアとデータ4ペアで、データレート100Mbps～4.8Gbpsまでキャプチャ可能です。
C-PHYは、1CHあたり3線トリオにより、データレート800Msps～3.5Gspsまでキャプチャ可能で、1モジュールあたり最大4個同時測定が可能です。
また、各入力ラインにはPMUも割り込むことができ、DC測定も可能です。

最小9スロットの空冷システムから、最大8,192チャンネル増設可能な52スロットの液冷システムまで、T2000はスケーラブルなシステム構成が可能です。
開発、少量生産向けには初期投資を抑えたコンパクトなソリューションを、量産向けには高効率な多数個同時測定ソリューションを提供します。
T2000ならお客様の測定ニーズに最適な構成をご提案できます。

T2000 Today

img_t2000

T2000 AiR Overview

img_t2000