T5503HS

Memory Test System

MODEL IMAGE

DDR4、LPDDR4メモリを試験するために最適。
高い生産性で低テスト・コストを実現

モバイル端末やサーバそしてパソコンなどの高速化、高機能化に伴い、それらに使われるDRAMも、より高速かつ大容量のLPDDR4やDDR4への移行が見込まれています。モバイル端末市場を軸に、今後これら次世代DRAMが世界規模で大きく普及するものと予想され、デバイス・メーカーでは量産体制構築に向けた準備が進められています。そうした中、テスト・システムにはさらなる高速化、高機能化およびテスト・コスト削減が求められています。
「T5503HS」は業界トップクラスの性能による優れたテスト・コストと、投資効率を最大化する拡張性を備えています。

最高4.5Gbpsの高速試験

「T5503HS」はDDR4/LPDDR4の最高動作周波数4.266Gbpsを上回る最高速4.5Gbpsでの高速試験を実現しています。またDBI(Data Bus Inversion)機能、入力レベル個別設定機能により、高速デバイスを最大限のスループットで試験可能です。
更にDDR4-SDRAMには高速動作を保証するため、 データ誤りを自動検出するCRC(Cycle Redundancy Check)やCA(Command Address) パリティなどの機能が追加されていますが、「T5503HS」はこれらの機能に対応するため、データコードやアドレスデータにあわせてCRCコードとパリティを自動生成する機能を搭載しています。これにより、複雑化するテスト用プログラムの開発の効率を上げることでお客様の負担を軽減し、お客様の製品のタイム・トゥ・マーケットに貢献します。

最大512個同時測定

「T5503HS」は次世代高速メモリDDR4-SDRAMのパッケージ試験において、最大512個の同時測定が可能です。更にソース・シンクロナスをリアルタイムで実現し、ポスト処理で行っていた従来システム比でスループットと歩留まり率を向上しました。またタイミング・トレーニング機能をハードウエアで実現し、従来のソフトウエア処理と比較し試験時間を大きく短縮することができます。

投資効率を最大化するシステム拡張性

「T5503HS」は「T5503」と同一のプラットフォームを使用しています。これにより、既存の「T5503」を最小限の設備投資で「T5503HS」へアップグレードすることが可能です。

Target Devices DDR4-SDRAM, LPDDR4-SDRAM, etc.
Parallel Testing Up to 512 devices per system
Test Speed Up to 4.5 Gbps