V93000｜SoCテスト・システム｜株式会社アドバンテスト

SoC Test System

スケーラブルなシングル・プラットフォーム

IoT, 5G, 人工知能（AI）が活躍する現代において、世界で製造されるICの多くが当社の装置で検査されています。業界をリードする半導体テスト・ソリューション・カンパニーとして、アドバンテストは常に業界標準に革命をもたらし、お客様と共にデジタル社会の未来を切り拓いていきます。

当社のV93000プラットフォームは、先端半導体の技術課題の解決をサポートします。テスト技術を介して、人工知能(AI)およびハイ・パフォーマンス・コンピューティング(HPC)、医療機器、先進運転支援システム(ADAS)など、世界をより安全に、より速く、そして私たちの生活をより快適にするアプリケーションの実現に貢献します。スケーラビリティと世代間の互換性を備えたプラットフォームは、コストを削減しお客様のビジネスの成功を確固たるものにします。オールインワン・プラットフォームは、RF、ハイパフォーマンスデジタル、パワー、アナログなど、さまざまなソリューションに対応します。

信頼と実績のインストール・ベース

当社は、V93000テスト・システムの大規模な設置ベースをエンジニアリングと量産試験の両方に展開してきました。「シングル・スケーラブル・プラットフォーム」というコンセプトを評価いただき、V93000は大手IDM（垂直統合型企業）、ファウンドリー、OSAT（半導体後工程受託企業）各社に広く採用されています。IDMやファブレス企業がテストを外注する上で、世界中のOSATに大きなテスト・キャパシティが確保されているV93000は第一の選択肢となっています。

アドバンテストが提供するソリューション

テクノロジーがエクサスケール・コンピューティングの時代に突入するにつれて、パフォーマンス、テスト・コスト、品質、及び迅速な量産展開において、多くのテスト課題が生じます。 EXA Scaleは、これらの課題に対処するための最先端のイノベーションを提供します。

V93000 EXAスケール - 新世代テスト・プラットフォーム

V93000 EXA Scale™ SoCテスト・システムは「エクサスケール」世代の先進的なデジタルICに最適なテスト・プラットフォームです。高度なデジタル・デバイスの課題に対応する新しいテスト・ソリューションを提供し、お客様のテスト・コストの削減および製品の早期市場投入を可能にします。

半導体プロセスの進化は、IoTやモバイル端末、自動車、大規模サーバーなどから発生する無数のデータを、リアルタイムに処理する技術革新に貢献しています。今後、モバイルプロセッサ、自動車の先進運転支援システム(ADAS)向けプロセッサ、ハイパフォーマンス・コンピューティング(HPC), 人工知能(AI) ICの進化と共に、処理されるデータ量も指数関数的に増加していきます。半導体テストはこれらに対応するため、膨大なスキャン・データの取り込みと読み出し、高出力電源、短時間での歩留まり改善、多数個同時測定といった、新たな課題に取り組んでいく必要があります。

V93000 EXA Scale™は、半導体試験装置に最適化された当社独自の通信ネットワーク「Xtreme Link™」(特許取得済み)を採用しています。この技術は、高速データ接続、組み込みコンピューティング能力、機器間通信を実現します。

優位性とメリット

究極のスケーラビリティにより、1つのテスト・プラットフォームで広範囲のデバイス・ポートフォリオをカバーし、テスト・コストの優位性を実現します。

小さなフットプリントのエンジニアリング・システムから、量産プロセスでの多ピンウェーハ・テストやファイナル・テストまで、幅広く互換性のあるテスタ構成。
HPC(ハイ・パフォーマンス・コンピューティング) やAI、モバイルやRF、車載や産業向けまで、業界で最も幅広いアプリケーションをカバー。

従来機種との高い互換性により、生産能力と投資効率を最大化します。

旧世代V93000のプローブ・カード、測定対象デバイス（DUT）ボード、およびテスト・プログラムが利用可能：
- 従来機種からの速やかな移行
- テスト・キャパシティーを効率的に活用できるフレキシビリティ
- テスト用ハードウェア（システム本体、プローブカード、デバイス・インタフェース）、テスト・エンジニアリング用インフラ、ノウハウ、トレーニングへの再投資の効率化

ムーアの法則を通じて半導体テストのイノベーションを推進する技術リーダーシップ

4世代に渡り受け継がれてきた革新的なパーピン・テスト・プロセッサと、環境に優しい水冷式アーキテクチャにより、業界をリードする実装密度、信頼性、デジタル、アナログ、RF測定の安定性と再現性を実現。
パフォーマンスとスループットを最適化した優れたソリューションを提供

EXA Scale ポートフォリオ

EXAスケールの高性能カード・ラインアップ

Pin Scale 5000

半導体試験に最適化された高速ピン
大容量ベクタ・メモリ
業界最高クラスの多機能ピン

Pin Scale Multilevel Serial

マルチ・レベル信号対応の完全統合型高速IOカード
大容量データに対応した深いベクタ・メモリ
高速IOを搭載した新規デバイスの特性評価や量産立ち上げに最適

Link Scale

ソフトウェアベースのファンクション・テストとスキャン・テスト
システムレベル・テスタとの相関と試験内容の受け渡しが可能
USBまたはPCIeによる高速スキャン・データ転送

DC Scale XPS256

ミリアンペアから数千アンペアまで出力可能
優れた精度と応答性能
革命的なプローブ針保護機能

DC Scale XPS128+HV

電圧レンジ-10V～+24Vの高電圧アプリケーションに対応
パワー/アナログデバイス向けの優れた精度と応答性能
DC Scale XPS256/XPS128との完全なチャンネル互換性

DC Scale XHC32

フレシキブル・ギャンギングに対応した超高密度電源
超多ピンデジタル＋DPSの構成が可能
DUTおよび針/ソケットの損傷を防止する保護機能を強化

究極のスケーラビリティ

V93000 EXA Scale™は、デジタル、RF、アナログ、パワーなどの機能を1台でテストすることができ、かつさまざまなサイズのテスト・ヘッドに拡張可能な、スケーラブルなテスト・ソリューションです。

V93000 EXA Scaleプラットフォーム概要

再利用性に優れた高い互換性

V93000 EXA Scaleは、従来製品である「V93000 Smart Scale」と互換性を持ち、お客様のV93000 EXA Scale™へのスムースな移行と資産の有効活用をサポートします。OSはV93000で多く実績のある「SmarTest」を採用し、お客様は既存のソフトウエア資産を引き続きお使いいただけます。

V93000は、最小のCXクラスから最大のLXクラスまで互換性のある筐体を用意し、投資対効果を最適化します。構成によって各筐体が自由に選べ、ユーザは試験デバイスのサイズやパフォーマンスに合わせて最適化でき、どの筐体でも、V93000の機能、性能は同様にご利用いただけます。

V93000のすべてのカードは、すべてのテスト・ヘッドに適合します。テスタの大きさに関係なく、各カードに同じ電源、冷却装置、コンピュータ・インタフェースが用意されています。テスト・プログラムだけでなく、DUTボードの交換も可能です。V93000はそのスケーラブルな設計により、卓越したデバイス・ポートフォリオ・カバレッジと試験コストの優位性を提供します。

DUT Scale Duo

今日のテストにおいて、一度に測定可能なデバイスの個数は、プローブカードやDUTボードにどれだけデバイスを置くスペースがあるかによって決まります。急成長する車載やモバイル、RF向けのデバイスは、一度でより多くのデバイスをテストするため、DUTボード上のスペースをこれまで以上に有効活用することが不可欠です。最先端のシングル・タッチダウンのウェーハ・テストから、多数個同時測定のファイナル・テストに至るあらゆるテストで、広いスペースを持つデバイス・インタフェースが求められています。
DUT Scale Duoは、DUTボードのサイズを切り替え可能な業界初のデバイス・インタフェースです。独自のスライド機構を採用し、アプリケーションの要求に合わせて簡単に大きさを切り替えることが可能な、コスト効率の高いソリューションです。

この画期的なインタフェースにより、DUTボードやプローブカードの使用可能スペースが50％以上拡大し、ウェーハプローブやファイナル・テストのセットアップは3倍以上の高さの部材に対応できるようになります。また、ダイレクトプロービング設計により、ボードの歪みを抑え優れたパフォーマンスを実現できます。

SmarTEST

SmarTest 8は、LinuxとEclipseをベースにアドバンテストが設計、実装、サポートする独自のオペレーティング・システムです。

先進的なV93000ハードウェア性能に合わせて、SmarTest 8は非常に柔軟でインタラクティブなユーザ・インタフェースを提供します。スループットが最適化されるように設計されたSmarTest 8ワーク・センターでは、テスト・プログラムの開発、特性評価、および量産テスト環境のためのすべてのシステム・キャパシティを利用できます。

テストプログラム開発環境では、測定器およびデバッグビューを使用して、テストフローからオペレーティング・シーケンス、個々の測定まで、完全なインタラクティブデバッグが可能です。この環境は、半導体デバイスの厳しい試験仕様、市場投入までの期間および試験コスト基準を満たすために特別に設計されています。

SmarTest 8は、特性評価、テスト・セル・インテグレーション、オペレータ・インタフェース・ツールなどの充実した機能により、量産への迅速な移行を可能にします。ユーザ・インタフェースは、RedHat Linux, Eclipse IDE, Javaベースのプログラミング・インタフェースに基づいています。拡張性を最適化するため、SmarTest 8には、システム能力、パフォーマンス、経済性のバランスをとるためのフレキシブルなライセンス体系が組み込まれています。

デジタル・ソリューション

集積回路（IC）の複雑化、電力要求の高まり、低いVDDレベルに対応した高いパワー精度、より深いベクターメモリの要求、ファンクションテストへの対応、テスト・コストへの配慮など、半導体試験には課題が山積みです。これらの課題をうまく乗り切るには、革新的なアプローチ、コラボレーション、そして半導体業界の進化する要求に応えるためのテスト手法の進歩への飽くなき挑戦が必要です。

ターンキー・ソリューションと専門知識を備えた当社のデジタル・ソリューションは、ソケット、ハンドラ、ロードボードなどの設計を支援します。当社はデジタル・ソリューションのマーケット・リーダーとして、卓越した出力精度、電力とスピードに優れたパーピン・エレクトロニクスを提供します。当社のXPS256, XHC32, Pin Scale 5000およびLink Scaleデジタル・カードは、AI、HPC、モバイルなどのアプリケーションにおけるテスト課題の解決を、将来にわたり強力にサポートします。

RF

急速に進化する無線通信業界は、現行のRFソリューションの在り方そのものを変える可能性を持っています。高度な並列性とマルチサイト機能に優れたRFソリューションが、低テストコスト化およびデバイスの市場投入までの時間短縮を実現します。

V93000 Wave Scale RF(WSRF)ソリューションは、Cellular 5G / 5G Advanced / NR RedCapをはじめ、Wi-Fi 6/6E/7, UWB, Bluetooth, GPS, ZigBee, WiGig, Sparklinkなど、その他多くの標準規格を含むRFおよびミリ波アプリケーションのこれらの要求事項に、トランシーバー、パワーアンプ、モジュール、RF-SOCなどデバイスのタイプを問わず対応します。

WSRFは、 V93000の革新的なテスト・プロセッサ・パー・ピンとカスタムRF ICをベースに、独立したRFサブシステムを備えた先進的なアーキテクチャを採用しています。大規模な並列試験と、今日のRFテストに求められるパフォーマンスを提供します。WSRF用インスツルメントのフロントエンドは、その出力にスプリッタとスイッチを組み合わせて使用し、送信と受信の両方で高精度のシリアル計測と高スループットのパラレル計測の両方の長所を兼ね備えています。環境に優しい水冷アーキテクチャとあわせて、業界をリードするRFポート密度、信頼性、測定の安定性と再現性を実現します。

業界をリードする広範なインスツルメントのセットを備えたV93000 EXA Scaleは、これらRF-SoC統合デバイスのテストに最適です。

パワー＆アナログ

ADASの統合、バッテリーセルの精密な監視とバランシング、安全機能の強化などの新たな挑戦により、最先端のマイクロプロセッサ、センサ、バッテリーマネジメントシステム（BMS）チップへの需要が高まっています。これらのICは試験と特性の評価に独特の条件があります。スケーラブルで柔軟なプラットフォームとユニバーサルなインスツルメントを備えたV93000 EXA Scaleは、これらのチップ全てをテストできます。

AVI64, FVI16, PowerMUXは、コスト効率の高い並列テストを可能にする高密度実装や、ハイパワー機能を備えたユニバーサル・パーピン・アーキテクチャなどの特長により、スケーラブルなV93000テスト・プラットフォームの用途をさらに拡大します。ハイサイドとローサイドの電源構造の試験を可能にするフローティング設計と、スループットを最大化する完全なパターン・ベース動作といった特長を有します。

V93000パワー・アナログ・ソリューションは、パワー・マネジメントIC、アナログIC、コントローラーICのさまざまな試験ニーズに対応できる一連の計測器が用意されています。高密度カード、汎用性の高い機能、高精度な測定機能を備え、テスト・コストの削減と、多数個同測を可能にします。

V93000