半導体テストシステム

SoC（System on a chip）は、異なる種類の複数の集積回路を1つのパッケージに集約したものを指します。SoCテストシステムは、システム内のさまざまな機能を持つカード／モジュールをテストの仕様に応じて組み合わせることで、ロジックやアナログ、RF、DC、イメージャーなど、半導体のあらゆる集積回路をテストすることができます。

パワー半導体は電力を制御する半導体で、自動車や幅広い電気製品に搭載されています。アドバンテスト・グループのCREA社が開発・提供する当システムは、高電圧、大電流を扱うパワー半導体のテストに特化し、ウェーハから高性能パワーモジュールまで柔軟に対応します。

半導体を用いデータの記録・保持ができる集積回路を、メモリ集積回路と言います。メモリテストシステムは、少品種・大量生産が一般的なメモリ半導体の量産工程に最適化され、多数個の半導体を同時にテストすることができます。