MT Family｜パワー半導体テスト・システム

パワー半導体テストプラットフォーム

MTシステムは、IGBT、MOSFET、ダイオード、サイリスタなどのパワー半導体に加え、炭化ケイ素（SiC）や窒化ガリウム（GaN）といった最新のワイドバンドギャップデバイス向けのDC/AC試験装置です。

MT100

MT200

MTシステムは、IGBT、MOSFET、ダイオード、サイリスタなどのパワー半導体に加え、SiCやGaNといった最新のワイドバンドギャップデバイス向けのDC/AC試験装置です。

DCテストで最大10kV-10kA、ACテストで最大6kV-18kAの試験条件に対応可能です。

生産全工程をカバー可能なテスタシリーズ：

IEC、JEDECなど国際規格に準拠したDCまたはAC（短絡試験を含む）テストをカバー

試験ニーズに応じて構成変更が可能なため、DC試験、AC試験、または両方（コンボ）を1台のテスターで実施可能

最大10kVの電圧発生と最大18kAの電流が出力可能なため、産業、車載、新エネルギー、鉄道、電力網など、あらゆる試験条件に対応

Product Name	Static Range	Dynamic Range (SCT)	Power Points	Gate Points	Sense Points	Integrated Test Adapter (Optional)
MT100S	2800 V - 800 A		32	32	32
MT100S-W	2800 V - 200 A		32	32	32
MT100S-P	2800 V - 6000 A		8	24	24
MT100S-HW	10 kV - 1000 A		2	2	4
MT100S-HP	10 kV - 6000 A		3	4	8
MT200S	2800 V - 3000 A		16	26	50	✓
MT200S-HP	10 kV - 9000 A		8	24	24	✓
MT200D		1500V - 4000A (6000A)	16	26	50	✓
MT200D-HW		4500 V - 1000 A (2000 A)	3	4	8
MT200DS	2800 V - 3000A	1500V - 4000 A (6000 A)	16	26	50	✓
MT200DS-HW	10 kV - 1000 A	4500 V - 1000 A (2000 A)	3	4	8

ADPアダプタは、テスト対象ユニットの移動およびコンタクトを目的として設計されています。温度制御機能と標準のMTテスタシリーズのフィクスチャドッキングシステムを搭載しています。

ADPアダプタはテスタに接続することで、エンジニアリング用途（プロトタイプ試験や新しいテストプログラムの開発）や特性評価のためのスタンドアロン試験セットアップを構築できます。

フィクスチャシステムは、テスト対象デバイス（DUT）とテスタを電気的に接続するためのアダプタです。

デバイス形状に応じた専用設計により、寄生インダクタンスを抑えたAC試験が可能です。