T7912

アナログ・テスト・システム

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汎用ロジック・アナログ・デバイス試験を低コストで実現

デジタル家電、携帯機器、OA周辺機器などのアプリケーションの多様化と製造プロセスの微細化により、汎用ロジックIC,汎用アナログIC,光半導体デバイス,ディスクリート・デバイスなどの高速化、高精度化、高機能化が進んでいます。

長年培った、これらデバイス測定技術を基に開発されたT7912は、各種デバイスの性能評価から量産試験に対応したアナログ・テスト・システムです。優れたコスト・パフォーマンスでしかも高品質な試験を可能にし、お客様のビジネスを強力に支援します。

用途に合わせたシステム構成が可能

最小構成から最大構成まで同一プラットフォームでの展開が可能となり、用途に応じて最適なシステム構成が選択できます。また、高速/高確度測定、最大8個までの同時測定を実現し、量産時のスループット向上に貢献します。

高速パーピンDCによりDC試験の高速化

最大72pinのパーピンDCユニット搭載により、増大するアナログピンの高速/高精度測定が可能です。

デバイス・プログラム作成ツール

メニュー方式を採用したプログラム作成ツールによりデバイス・プログラムが容易に作成できます。(オプションソフトウエア)

主な仕様

対象デバイス 汎用ロジックIC,汎用アナログIC
光半導体デバイス,ディスクリート・デバイス
同時測定 最大8個

基本構成

デバイス電源 2chから最大8ch
±128V/±32mA,±64V/±80mA,±16V/±500mA
±16V/±2A(パルス)
入出力用電源 8chから最大64ch
±64V/±32mA,±16V/±64mA

オプション

高電圧電源 1chから8ch(MPX切替)
+2kV/+1mA(1chあたり)
時間測定ユニット 8ch(A/B×4ch)、測定範囲 5ns~10s、分解能100ps