T7912
アナログ・テスト・システム

汎用ロジック・アナログ・デバイス試験を低コストで実現
デジタル家電、携帯機器、OA周辺機器などのアプリケーションの多様化と製造プロセスの微細化により、汎用ロジックIC,汎用アナログIC,光半導体デバイス,ディスクリート・デバイスなどの高速化、高精度化、高機能化が進んでいます。
長年培った、これらデバイス測定技術を基に開発されたT7912は、各種デバイスの性能評価から量産試験に対応したアナログ・テスト・システムです。優れたコスト・パフォーマンスでしかも高品質な試験を可能にし、お客様のビジネスを強力に支援します。
用途に合わせたシステム構成が可能
最小構成から最大構成まで同一プラットフォームでの展開が可能となり、用途に応じて最適なシステム構成が選択できます。また、高速/高確度測定、最大8個までの同時測定を実現し、量産時のスループット向上に貢献します。
高速パーピンDCによりDC試験の高速化
最大72pinのパーピンDCユニット搭載により、増大するアナログピンの高速/高精度測定が可能です。
デバイス・プログラム作成ツール
メニュー方式を採用したプログラム作成ツールによりデバイス・プログラムが容易に作成できます。(オプションソフトウエア)
主な仕様
対象デバイス | 汎用ロジックIC,汎用アナログIC 光半導体デバイス,ディスクリート・デバイス |
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同時測定 | 最大8個 |
基本構成
デバイス電源 | 2chから最大8ch ±128V/±32mA,±64V/±80mA,±16V/±500mA ±16V/±2A(パルス) |
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入出力用電源 | 8chから最大64ch ±64V/±32mA,±16V/±64mA |
オプション
高電圧電源 | 1chから8ch(MPX切替) +2kV/+1mA(1chあたり) |
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時間測定ユニット | 8ch(A/B×4ch)、測定範囲 5ns~10s、分解能100ps |