V93000 EXA Scale™ SoCテスト・システム

SoCテスト・システム

エクサスケール・コンピューティング時代の技術課題に応える最先端テスト・ソリューション

半導体プロセスの進化は、IoTやモバイル端末、自動車、大規模サーバーなどから発生する無数のデータをリアルタイムに処理する技術革新に貢献しています。今後、モバイルプロセッサ、ハイパフォーマンス・コンピューティング(HPC)、人工知能(AI)ICの進化と共に、処理されるデータ量も指数関数的に増加していきます。半導体テストはこれらに対応するため、膨大なスキャンデータの取り込みと読み出し、高出力電源、短時間での歩留まり改善、多数個同時測定といった、新たな課題に取り組んでいく必要があります。

V93000 EXA Scale™は、半導体業界で高い実績を持つV93000アーキテクチャーをさらに進化させ、スキャンテストの高速化やスループットの向上など数多くのイノベーションを実現しました。半導体に100京回/秒の超高速処理が求められる「エクサスケール」の時代において、新たなテスト手法の導入やテストコストの削減、量産までの期間短縮といったさらなる価値を半導体バリューチェーンに提供します。