MPT3000EV2

信頼性実証（Reliability Demonstration Test）SSD テスト・システム

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業界最高レベルのハイパフォーマンスSSD用温度制御で、RDT工程を短縮

PCIe 3.0とNVM Express、そしてPCIe Gen 4 SSDの登場により、SSDはパフォーマンスを向上しながら市場成長を続けています。この急激な成長とパフォーマンスの向上には、SSD製品の信頼性実証試験(RDT)用の高性能ツールが必要です。フレキシブルな開発環境は売上総利益の増加に、製品の早期市場投入は市場占有率の高さにつながります。MPT3000は、エンタープライズ向けSSDと、コンシューマー向けSSDの両方のテストニーズに対応可能な、フレキシブルなテスト・システムです。

最大22.5 Gbpsの試験速度

半導体テスト・システムで長年積み重ねた高速テストの経験と、特許取得済みであるハードウェア・アクセラレーションなどの技術が結集し、業界最高水準の高速試験性能が実現しました。

高精度なデバイス温度安定性

低温から高温までデバイス温度を高精度に安定して制御するチャンバーに加えて、大電力エンタープライズSSDを試験するために、SSDごとに非同期で個別制御可能な大電力デバイス電源を装備しています。

マルチ・プロトコル機能と高効率なパラレル処理機能

マルチ・プロトコル機能とアプリケーション・ボードにより、SATA、SASおよびGen 4を含むPCIeなど多様なSSDプロトコルや、AIC、U.2、M.2およびEDSFFなどのフォームファクタを、高い効率で同時測定します。これらによりMPT3000EV2は、複数のビジネス機会の同時進行や、突発的な市場変化への対応など、お客様のSSDビジネスをフレキシブルにサポートします。