TAS7500SL

TAS7500シリーズ 製品ラインナップ

低域仕様 テラヘルツ分光システム

テラヘルツ帯無線通信用材料などの研究に

  • テラヘルツ帯無線通信の材料開発などに適した低域(0.03~2THz)仕様
  • 調整不用で簡単な測定モジュール交換
  • 付属のドライエア・ユニットにより水蒸気の影響を受けずに測定可能
測定モジュール(オプション) 透過/反射
対象試料 誘電体材料、化学物質、その他試薬
解析・表示機能 スペクトル表示(透過率、反射率、位相差、吸光度、吸収係数、複素屈折率、複素誘電率)、時間応答表示(電界強度)、定量解析 (オプション)
周波数レンジ 0.03 ~ 2 THz (温度範囲23°C ±5°C にて)
スキャンレート 8ms / scan 以下

アプリケーション テラヘルツ帯 通信用材料 (TAS7500SLを用いた低周波分光測定例)

テラヘルツ通信向け材料の開発

将来の実用化に向けて研究が進むテラヘルツ帯無線通信では、適切な誘電率や吸収特性など材料の特性を把握することが重要です。

各種材料の誘電率と誘電損失測定の例

石英、アルミナ、フォルステライトにテラヘルツ波を照射し、帯域による誘電率および誘電損失の変化を測定することができます。

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