本セミナーは終了いたしました。たくさんのお申込みありがとうございました。
この度、半導体デバイスの設計・開発・製造に携わっていらっしゃる皆様に、半導体テストの効率性向上をもたらすワンストップかつターンキーのテスト・ソリューション情報をお伝えするセミナーを企画いたしました。
現下の生成AIの急速な普及に代表されるような半導体の複雑性進行に対応し、より高性能で信頼性の高いデバイスをより迅速に市場に提供するための最新のテスト・ソリューションをご紹介します。
- 日程・時間
- 2024年11月8日(金)13:00 ~ 17:55(12:30 受付開始)
- 開催場所
- 東京コンファレンスセンター・品川
東京都港区港南1丁目9-36アレア品川5F Tel.03-6717-7000
JR・新幹線・京浜急行 品川駅中央改札港南口(東口)より徒歩2分
https://www.tokyo-cc.co.jp/shinagawa/index.html - セミナー内容
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(1)70周年記念講演
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(2)基調講演
インフォーマインテリジェンス合同会社(ブランド名:オムディア)
シニアコンサルティングディレクター 南川 明様 -
(3)講演(途中2つのセッションに分かれ、同時進行にて開催)
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- 定員
- 会場120名/オンライン100名(お申込みが多い場合は、先着順となります。)
- お問合せ
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アドバンテスト テクニカルセミナー2024 事務局 へお問い合わせください。
contact.japan@advantest.com