T5851/T5851ES

メモリ・テスト・システム

MODEL IMAGE

「T5851」は、高速プロトコルNANDフラッシュメモリ向けのメモリ・テスト・システムです。5G通信時代を迎え期待が高まっている、「UFS4.0」規格のUFS(コントローラを内蔵したNANDフラッシュメモリ)や、「PCIExpress Gen 5」対応のBGA(Ball Grid Array)タイプSSDなどのシステムレベル・テストに最適です。
「T5851」は、デバイスのシステム・レベル・テストに特化した新しい分野のテスト・ソリューションにおいて、これまでのメモリ・テスト・システムと同様の信頼性、低コストかつ量産性能を実現し、お客様のあらゆるニーズに応えます。

コンパクトなエンジニアリング評価解析タイプと、量産向けテスト・ハンドラ(自動搬送装置)との接続が可能な量産試験タイプの2つのモデルを用意しています。モジュール単位でのアップグレードが可能であり、お客様はデバイスの種類に応じてシステム構成とパフォーマンスを最適化でき、長期にわたり投資効率を高めることができます。

DUT (Device Under Test) 完全個別試験と、アドバンテストが独自開発したハードウエア・アクセラレータにより、業界トップクラスのテストタイムを実現します。更に当社メモリ・テスト・システムとともに業界に広く普及しているFutureSuite™ ソフトウエアを採用し、お客様の設備投資と量産展開のリスクを最小化します。

拡張性に富んだ高電流プログラマブル電源は、今日及び次世代のあらゆるデバイスニーズに対応し、液冷方式のモジュールとともに優れたテスト信頼性を提供します。

Target Devices Protocol I/F NAND, UFS
Parallel Testing 512
Test Speed Up to 32Gbps
Overall Timing Accuracy N/A
Software FutureSuite OS (ATL and MPAT compatible)