MT システム
MT システムは、パワー半導体（IGBT、MOSFET、ダイオード、サイリスタ、SiC、GaNなど）のパッケージ、およびディスクリート、モジュール、基板、の静的・動的パラメータを検証する、構成変更可能なテスト装置です。
テスト・プログラム・ファイルに保存されている膨大な一連のテストを一度の開始コマンドで実行することができます。あらゆるパッケージ・デバイス、ないしパッケージ化されていないダイを自動的に操作するためのハンドラー・インターフェースが備えています。
MTシステムは、ダイから複雑なモジュール構成までのパワー半導体の静的パラメータテストに必要な電圧と電流を幅広くカバーする、ユーザーの幅広いテスト・ニーズをカバーするテストソリューションです。最大 10 kV ・ 18 kAまでの範囲で動的パラメータと複合パラメータをテストする機能を備え、厳しい品質や信頼性が求められるテストにも対応します。
ST システム
STシステムは、ディスクリートパワー半導体の静的パラメータの安定性やドリフトを検証する試験装置です。
このシステムは、ストレスシーケンス（加熱および冷却）の前後に最大60個のデバイスの同時計測を一度の開始コマンドで実行することができます。最大出力は1チャンネルあたり100Wです。テストデバイスを自動的に操作、接触、冷却するため、ハンドラー・インターフェースを備えています。
CREA S.r.I
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