M4841

テスト・ハンドラ

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MCU、DSPの大量生産に最適な高スループット・ハンドラ

近年の半導体デバイス生産には、従来以上にパフォーマンスの高い生産設備や、環境試験においても幅広い温度範囲の対応が必要とされてきています。 M4841は、BGA、CSPやQFPなどのパッケージを多数個同時に高スループットで試験。携帯型デジタル機器や、車載用などの半導体の量産用に最適な テスト・ハンドラです。

テスト・コストを低減

M4841は、最大32個の同時測定(当社従来機比4倍)と、毎時18,500個(当社従来機比3倍以上) の高スループットを実現しました。テストを高効率で行うため、大量生産に最適です。従来困難であった16個同時測定時においても3秒以下のテストに動作が 追従し、テスト・タイムの削減に貢献できます。

広い温度範囲で測定可能

M4841は恒温槽を有し、-40℃の低温から+125℃の高温まで広いレンジにわたり、温度を印加する ことができます(オプション追加で-55℃の低温から+175℃までレンジ拡大可能)。従って、車載用機器や航空機などに使用される厳しい環境試験にも対応可能です。また、この温度印加時においても、入替え時間や処理能力の 影響が少なく、高速・高スループットで動作させることができます。

モジュラリティ構造

M4841は、ハンドラの構造を決める構成要素の中で、『同時測定個数』、『測定温度範囲』、『処理能力』に 関して選択できる構造を採用しています。同一の本体に、違う能力のユニットを選択することで、導入時コストの最適化が可能です。測定する製品群に合わせ て、各部を構成するユニットの内容を選択し、無駄のない構成が実現できます。

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対象パッケージ BGA、CSP、QFPなど
同時測定 最大32個
スループット 18,500個/時間
温度印加範囲 -40℃~+125℃
-55℃~+175℃(オプション)