光学セット（オプション）｜テラヘルツ分光・イメージング解析システム

光学セット

分光測定や2D分光・イメージング（マッピング）測定を実現する TAS7500TS／TAS7400TS 専用光学セット

分光測定光学セット仕様

型式	SHT-710068		SHT-710193	SHT-710157			SHT-710232
周波数帯	2 THz	4 THz	7 THz	2 THz	4 THz	7 THz	2 THz	4 THz
発生モジュール	TAS1120	TAS1110	TAS1130^(*1)	TAS1120	TAS1110	TAS1130^(*1)	TAS1120	TAS1110
検出モジュール	TAS1220	TAS1230	TAS1230	TAS1220	TAS1230		TAS1220	TAS1230
搭載可能測定モジュール	透過・反射	透過・反射・ATR	透過・反射・ATR	–^(*2)			透過・反射（入射角可変）・垂直入射
ドライエアパージカバー	不要		不要	付属			オプション^(*3)
サイズ^(*4) （W×D×H：mm）	450 × 220 × 290		450 × 264 × 312	870 × 490 × 220			820 × 630 × 350

分光測定用のNA変換光学系（SHT-210101）が必要になります。
測定するための光学系は、お客様でご用意いただきます。
樹脂製のカバー (SHT-710239) が提供可能です。
高さは最大値です。搭載の測定モジュール等で異なる場合があります。

1) SHT-710068：テラヘルツ分光測定ベース　～4THz（2THz）用途

2) SHT-710193：テラヘルツ分光測定ベース　～7THz用途

テラヘルツ分光システムTAS7500SL/SP/SU用の各種分光測定モジュールが利用できる光学セットです。
煩雑な光学調整が不要で簡便に測定ができます。
コンパクトな分光モジュールで、水蒸気除去のためのドライエアパージに時間を要しません。
透過モジュールではオプション（TAS1020/TAS1030）装着により温度制御測定も可能です。

SHT-710193＋透過モジュール（SHT-2100037）取り付け例

分光測定モジュール

透過モジュール
透過偏光解析モジュール

反射モジュール

ATRモジュール

温度コントロールモジュール
（透過モジュール専用）TAS1020/TAS1030

3) SHT-710157：分光測定用ステージ（汎用タイプ）

お客様自身で光学配置を構築いただく光学セットです。
広い試料・治具配置エリアを確保しており、クライオスタット等を用いた測定も可能です。
発生光学部と検出光学部はスライド式で移動でき、用途に応じて光学配置を透過系や反射系等任意に組み換えが可能です。

発生光学部と検出光学部の間に試料・治具配置エリアがあり、ミラー間は最大30cmまで拡張可能

大型クライオスタットを使った測定系の例

4) SHT-710232：入射角可変光学セット

各種材料の透過測定、入射角可変反射測定、垂直入射反射測定^(*1)が可能です。
2THz用または4THz用テラヘルツ発生・検出モジュールを取り付けて使用します。

(*1) 垂直入射光学部（SHT-710233）が必要となります。

透過／反射測定例

製品仕様

項目	仕様
入射角（反射角）可変範囲	20°～90° 連続可変
測定試料サイズ	板状試料　厚さ1mm～10mm　最大100mm（H）× 150mm（W）
測定光学配置	透過／反射／垂直入射（0°）
ビーム形状	平行ビーム／集光ビーム　※レンズ交換により可能
搭載可能テラヘルツモジュール	発生：TAS1120(～2THz）、TAS1110(～4THz）検出：TAS1220(～2THz）、TAS1230(～7THz）
偏光	P偏光／S偏光　※テラヘルツモジュールの配置変更により可能
寸法	820mm(W) × 630mm(D) × 350mm(H)
重量	64kg以下

オプション仕様

項目	型番	仕様
エアー・パージ・カバー	SHT-710239	外形 : 690mm(W) × 608mm(D) × 290mm(H)
垂直入射光学部	SHT-710233	構成 : ハーフミラー、対物レンズ、光学ベンチ
試料ホルダセット	SHT-710240	試料ホルダ1：開口サイズ：20mm　形状：円形
		試料ホルダ2：開口サイズ：20mm × 40mm　形状：長穴
		試料ホルダ3：開口サイズ：20mm × 80mm　形状：長穴

エアー・パージ・カバー（オプション）

垂直入射光学部（オプション）

試料ホルダセット（オプション）

テラヘルツ分光イメージング光学セット　SHT-710122X04

XYステージ上に試料をセットしてスキャンすることで、2次元の分光イメージング測定を可能にする光学セットです。
光学配置を切り替えることで透過および反射測定が可能です。
大きな試料の分光測定や、広範囲な分光イメージング測定が可能です。
付属の専用ソフトウエアにより2Dマッピングの他、各測定ポイントの分光解析が可能です。

TAS7500TS 測定ユニット、SHT-710122X04 テラヘルツ分光イメージング光学セット

SHT-710122X04を使用した導電性塗料の反射率2Dマップ例

透過測定モード

反射測定モード

SHT-710122X04 仕様

型式		SHT-710122X04^(*1)
周波数帯		2 THz	4 THz	7 THz
発生モジュール		TAS1120	TAS1110	TAS1130^(*2)
検出モジュール		TAS1220	TAS1230
測定モード		透過および反射^(*3)
スキャン範囲	最大	150 mm × 150 mm
スキャン分解能	最小	0.2 mm
スキャン方式		ラスタースキャン
測定可能サンプルサイズ	最大	150 mm × 150 mm、厚み 45 mm
1ポイントあたりの測定時間^(*4)	最小	約 1 s（@TAS7500TS、7.6 GHz分解能、積算回数1回）約 2 s（@TAS7400TS、7.6 GHz分解能、積算回数1回）
テラヘルツスポットサイズ		< 1 mm（2THz） < 6 mm（0.3THz）
反射測定時の測定位置（高さ）調整機構	ステージ高さ	基準高さ： ± 5 mm（マニュアル）
反射測定時の測定位置（高さ）調整機構	テラヘルツ波集光高さ	基準高さ： 0 ～ +40 mm（10 mm step）

以下のソフトが必要になります。
- 分光イメージングソフトウェア（STAS14015SE-01）
- 自動制御ライセンス（PYSI74-08MNIS または PYSI75-08MNIS）
- Microsoft Excel 64bit版
分光イメージング用のNA変換光学系（SHT-210151）が必要になります。
反射測定は、入射角10°（固定）になります。
サンプルの移動時間は含みません。

光学セット（オプション）

光学セット

分光測定光学セット 仕様

1) SHT-710068：テラヘルツ分光測定ベース ～4THz（2THz）用途

2) SHT-710193：テラヘルツ分光測定ベース ～7THz用途