テラヘルツ光サンプリング解析システム TAS7400TS ＋ 高周波数分解能オプション PYSI74-10MNIS
Beyond5G/6Gの次世代通信技術、ADAS（先進運転支援システム）に用いられるミリ波レーダー技術に欠かせない電波吸収体、プリント基板材料、ポリマー材料などの高周波特性評価に適したテラヘルツ光サンプリング解析システムです。
ミリ波やさらなる高周波領域での各種材料の伝達特性
(透過率、反射率) や、複素誘電率などの特性評価において、幅広い研究開発にご利用いただけます。
ミリ波～テラヘルツ波の新しい周波数特性評価システム
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高周波数分解能380MHzを実現
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バンド切り替え無しに、広帯域（30GHz～2THz）を一括測定
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広帯域をスキャンスピード40msの高速掃引
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透過／反射測定系の配置、キャリブレーションが容易
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リモートプログラミング対応機能により、自動ステージ等と連動した2Dマッピング測定（オプション：Automatic Control Measuring）
0.557THz付近の周波数分解能比較
（水蒸気吸収）
（水蒸気吸収）
紹介動画
システム構成例（30GHz～2THz）
主な仕様
システム構成
発振周波数同期型ファイバレーザ2台（THz発生用，THz検出用）、レーザ同期制御部、データ収集部、解析PC
レーザ
| 中心波長 | 1550 nm |
|---|---|
| 出力パワー | ≥20mW (*1) （オプションにより最大50mW以上） |
| パルス幅 | ≤50fs (*1) （光ファイバ：1.5m 接続時） |
| 繰り返し周波数 | 50MHz |
| 光出力ポート数 | THz発生用：1ポート、THz検出用：1ポート （オプションにより最大2ポートまで対応） |
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(*1)温度範囲：23°C±5°C
測定性能
| 周波数分解能 | 380MHz(*2)、1.9GHz、7.6GHz |
|---|---|
| スループット | 40ms/scan(*2)、200ms/scan |
| 周波数確度 | ±5GHz（周波数：0.557THz）(*2)、±10GHz（周波数：1.41THz） |
| 測定項目 | 透過率、反射率、位相差、複素誘電率、誘電正接 (tanδ) |
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(*2)高周波数分解能オプション搭載時
テラヘルツ発生モジュール TAS1120（低域仕様：0.03～2THz）
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光伝導アンテナとSi超半球レンズを一体化した、光ファイバ入力型で取り扱い簡易な小型テラヘルツ発生モジュールです。
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内蔵バイアス回路に搭載したON電流モニタとサーミスタの使用により環境温度の変化に対して安定した出力強度を得ることができます。
TAS1120 構造図
TAS1120およびTAS1220を使用した場合の測定スペクトル例
テラヘルツ検出モジュール TAS1220
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光伝導アンテナとSi超半球レンズを一体化した、光ファイバ入力型で取り扱い簡易な小型テラヘルツ検出モジュールです。
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1550nm帯の光パルスを入力することでテラヘルツ波を検出します。
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周波数帯域幅500kHzのTIA（電流-電圧変換）回路を内蔵、外付け回路なしで測定可能です。
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TAS1120 テラヘルツ発生モジュール (0.03～2THz) と組み合わせて使用します。
主な仕様
テラヘルツ発生モジュール TAS1120（低域仕様）
| 方式 | 光伝導アンテナ |
|---|---|
| SNR=1領域 (*) | 0.03 to 2THz |
| 入力光ファイバ・コネクタ | φ3mm 1550nm 偏波保持型光ファイバ（長さ：1.5m） |
| 寸法（ファイバピグテールを除く） | 55mm × 20mm × 20mm 以下 |
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(*)検出器 TAS1220 にて、周波数分解能7.6GHzで測定の場合
テラヘルツ検出モジュール TAS1220
| 方式 | 光伝導アンテナ |
|---|---|
| ダイナミックレンジ （ピークレベル） |
≥50dB（発生器：TAS1120）（分解能7.6GHz） |
| TIA感度 | 9.7 × 106 V/A |
| TIA周波数帯域（-3dB帯域） | 500kHz |
| 入力光ファイバ・コネクタ | φ3mm 1550nm 偏波保持型光ファイバ（長さ：1.5m） |
| 寸法（ファイバピグテールを除く） | 55mm × 20mm × 20mm 以下 |
※ 製品仕様および外観等は、予告なしに変更することがありますのでご了承ください。
